3938型掃描電遷移率粒徑譜儀

更新時(shí)間：2024-03-17

簡(jiǎn)要描述：

產(chǎn)品詳情

TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應(yīng)用于測(cè)量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對(duì)液體懸浮顆粒進(jìn)行精確的納米顆粒粒徑測(cè)量。美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對(duì)60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)參考粒徑進(jìn)行測(cè)量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測(cè)量是審慎的技術(shù)，在該技術(shù)方法中計(jì)數(shù)濃度會(huì)被直接測(cè)量而無(wú)需假設(shè)粒徑

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詳細(xì)介紹

特性和優(yōu)點(diǎn)

高分辨率數(shù)據(jù)：高達(dá)167通道

1nm到1,000nm的極寬粒徑范圍

符合ISO 15900:2009標(biāo)準(zhǔn)

快速測(cè)量：<10s掃描

寬濃度范圍，高達(dá) 10 7 顆粒/cm 3

給您zui大靈活度的組件設(shè)計(jì)

觸摸屏控制無(wú)需電腦操作

免工具安裝易于設(shè)置，自動(dòng)發(fā)現(xiàn)組件

審慎的顆粒測(cè)量：適合多模樣品

不依賴于粒子和流體的光學(xué)性質(zhì)

寬系統(tǒng)配置選項(xiàng)：可選水介質(zhì)或丁醇介質(zhì)凝聚粒子計(jì)數(shù)器；可選傳統(tǒng)的或無(wú)輻射中和器

應(yīng)用

納米技術(shù)研究和材料合成

大氣研究和環(huán)境檢測(cè)

燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排放研究

室內(nèi)空氣質(zhì)量測(cè)量

成核/凝結(jié)研究

吸入毒理學(xué)研究

包含組件

與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級(jí)器

七款凝聚粒子計(jì)數(shù)器之一

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