更新時間:2024-03-17
產(chǎn)品詳情 TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移粒徑譜儀被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量 標(biāo)準(zhǔn)。選配3777型納米增強(qiáng)儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀(1nm-DMA)組件后,SMPS粒徑譜 儀能夠測量納米的粒徑范圍擴(kuò)展至1nm。。以下特性和優(yōu)勢是基于由 3082 型靜電分級器 、 1nm-DMA差分遷移分析儀 、 3777型納米增 強(qiáng)儀 、3772型凝聚粒子計(jì)數(shù)器 等組
高分辨率粒徑分布
+ 64通道/10倍粒徑
+ 1到50nm之間多于109通道
給您zui大靈活度的組件設(shè)計(jì)
1nm到50nm的極寬粒徑范圍
+和3081A型長差分電遷移分析儀配套使用能夠測量1nm到1um
三個數(shù)量級的粒徑
將散逸損失降到zui低,系統(tǒng)高度整合
通過氣溶膠儀器管理(AIM)軟件進(jìn)行系統(tǒng)操作
離散顆粒物測量:多模態(tài)樣品測量效果*
基礎(chǔ)氣溶膠研究
顆粒成核及生長研究
大氣及氣候研究
燃燒及發(fā)動機(jī)排放研究
過濾器及空氣凈化器測試
吸入或暴露艙研究
健康影響因素研究
地址:北京市朝陽區(qū)成壽寺路134號院3#0506室 傳真:010-51414045 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 備案號:津ICP備16003413號-3 GoogleSitemap
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